一文读懂超声电声法Zeta电位仪

　　超声电声法Zeta电位仪是纳米材料的一种重要表征参数。现代仪器可以通过简便的手段快速准确地测得。大致原理为：通过电化学原理将Zeta电位的测量转化成带电粒子淌度的测量，而粒子淌度的测量测是通过动态光散射，运用波的多普勒效应测得。粒子表面存在的净电荷影响粒子界面周围区域的离子分布，导致接近表面抗衡离子（与粒子电荷相反的离子）浓度增加。

 

　　于是，每个粒子周围均存在双电层。围绕粒子的液体层存在两部分：一是内层区，称为Stern层，其中离子与粒子紧紧地结合在一起；另一个是外层分散区，其中离子不那么紧密的与粒子相吸附。在分散层内，有一个抽象边界，在边界内的离子和粒子形成稳定实体。当粒子运动时（如由于重力），在此边界内的离子随着粒子运动，但此边界外的离子不随着粒子运动。这个边界称为流体力学剪切层或滑动面（slippingplane）。在这个边界上存在的电位即称为Zeta电位。

 

　　超声电声法Zeta电位仪的粒度测量方法：

　　（1）晶粒：指单晶颗粒，即颗粒内为单相，无晶界。

　　（2）一次颗粒：指含有低孔隙率的一种独立的粒子。它能被电子显微镜观察到。

　　（3）团聚体：是由一次颗粒为降低表面势能而通过范德华力或固定的桥键作用形成的更大颗粒。团聚体内含有相互连接的孔隙网络，它能被电子显微镜观察到。

　　（4）二次颗粒：指人为制造的粉料团聚粒子。如陶瓷工艺中的“造粒”。目前所谓“纳米材料”的功能绝大多数体现为团聚体的功能，若能将团聚体分散成一次颗粒，则将表现出纳米颗粒更多的特性。